判定太陽光模擬器光源質(zhì)量的三個(gè)重要指標(biāo)。

 

1. 光譜匹配度

 

光譜匹配度的定義是模擬光分別在400-500nm、500-600nm、600-700nm、700-800nm、800-900nm和900-1100nm這6個(gè)光譜范圍內(nèi)與真實(shí)太陽光的匹配程度，用百分比來表示。根據(jù)數(shù)據(jù)的偏離情況對(duì)模擬器匹配程度的等級(jí)進(jìn)行劃分。

 

 

2. 輻照空間不均勻性

 

在測試區(qū)域的輻照度應(yīng)達(dá)到一定的均勻度要求。計(jì)算方法為：不均勻度=（大輻照度-小輻照度）/（大輻照度+小輻照度）×100%。

 

光照均勻性是難達(dá)到和保持的一項(xiàng)指標(biāo)，工作面積上的強(qiáng)光點(diǎn)會(huì)導(dǎo)致被測電池效率產(chǎn)生嚴(yán)重誤差，并導(dǎo)致電池分級(jí)錯(cuò)誤。均勻度*的模擬器就能將這種強(qiáng)光點(diǎn)對(duì)產(chǎn)品的影響降到低，其空間均勻性嚴(yán)格控制于≤2%。

 

 

3. 輻照時(shí)間不穩(wěn)定性

 

輻照穩(wěn)定性是AA*標(biāo)準(zhǔn)的第三項(xiàng)性能參數(shù)指標(biāo)，它要求模擬器的輸出光束長時(shí)間保持穩(wěn)定的照度以確保太陽能電池效率測定的性。對(duì)于輻照不穩(wěn)定性，還細(xì)分為不穩(wěn)定性（LTI）和短期不穩(wěn)定性（STI），分別對(duì)應(yīng)整個(gè)IV測試過程中輻照度的變化和取點(diǎn)過程中輻照度的變化。